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聚焦離子束和掃描電子顯微鏡 – FIB-SEM
蔡司 Crossbeam 將場發射掃描電子顯微鏡（FE-SEM）鏡筒的強大成像和分析性能與新一代聚焦離子束（FIB）的優異加工能力相結合。無論是切割、成像或進行 3D 分析，Crossbeam 系列都能極大地提升您的應用體驗。使用 Gemini 電子光學系統，您可以從掃描電子顯微鏡（SEM）圖像中獲取真實的樣品信息。Ion-sculptor FIB 鏡筒引入了全新的 FIB 加工方法，能夠減少樣品損傷，提升樣品質量，從而加快實驗進程。

型號：Crossbeam 350 /550
發布時間：2025-08-23
FEI FIB雙束掃描電子顯微鏡Helios 5 DualBeam
用于 TEM 和 STEM 成像或原子探針斷層掃描的樣品制備。產品可實現先進的自動化操作，簡單易用，并且能夠進行高質量的亞表面 3D 表征。

型號：Helios 5 DualBeam
發布時間：2022-12-04

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